上海測維芯片檢查顯微鏡LW400JT

芯片檢查顯微鏡LW400JT上海測維產(chǎn)品簡介：
LW400JT芯片檢查顯微鏡適用于對不透明物體的進行顯微觀察。配置大移動范圍的機械式載物臺、落射照明器、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。適用于學校、科研、工廠等部門使用。
芯片檢查顯微鏡LW400JT上海測維產(chǎn)品特點：
1.  配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)，視場大而清晰。
2. 配置大移動范圍的載物臺，能快速和慢速移動。
3.粗微動同軸調(diào)焦機構(gòu)，粗動松緊可調(diào)，帶鎖緊和限位裝置，微動格值:2μm。
4. 6V 20W鹵素燈,亮度可調(diào)。
5. 三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進行100%透光攝影

芯片檢查顯微鏡LW400JT上海測維產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：
1、三目鏡筒：傾斜30 °，瞳距55mm-75mm，視度±5°
2、目鏡：WF10X/18mm
3、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)
PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40
PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8
4、總放大倍數(shù)：50X-800X
5、載物臺：尺寸: 280mm×270mm,移動范圍: 204mm×204mm
6、調(diào)焦：粗微動同軸 升降范圍25mm ,微動格值0.002mm
7、光 源：柯勒照明 濾色片座 可調(diào)鹵素燈6V20W
8、正交偏光裝置

芯片檢查顯微鏡LW400JT上海測維產(chǎn)品選購件：
1、目鏡：WF16X/11mm，WF20X/9mm，10X帶尺可調(diào)目鏡
2、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L 50X/0.70、 PL L 60X/0.75 (彈簧)、 PL L 100X/0.85 (彈簧)
平場消色差物鏡(無蓋玻片)： PL 100X/1.25  (彈簧,油)
3、攝像系統(tǒng)：數(shù)碼攝像頭130萬或300萬，數(shù)碼相機
4、測量軟件，金相分析軟件等

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